JC T7 T8 NAND испытательный модуль NAND Тест вспышки для iPhone 6S 6SP 7 7P 8 8P NAND ремонт логической платы

JC T7 T8 NAND испытательный модуль NAND Тест вспышки для iPhone 6S 6SP 7 7 P 8 8 P NAND ремонт логической платы

Технические характеристикиJC T7 T8 NAND Тесты приспособление модуль для iPhone 8/8 P ремонт логической платыJC T7 T8 NAND Тесты приспособление модуль профессионально выполнен по 2-в-1 iPhone NAND/материнской платы инструмент для ремонта тестовое приспособление для iPhone NAND используется для тестирования состояния вспышки NAND (плохой или хороший), также может использоваться для повторной установки/повторной вспышки/повторного хранения системы iOS на материнской плате iPhone, обновление прошивки, И почистите свою логическую плату iPhone, получите код ошибки в формате айтюнса.Особенности:Для проверки состояния NAND Flash (плохой или хороший)Используйте с JC C1 Smart Repair Box, не нужен аккумулятор.Чтение/запись/правка/Nand чип/обновление прошивки с помощью этого инструмента для тестирования, чистка iPhone 8/8 pУльтратонкий базовый дизайнT7 поддержка iPhone6S/6SP/7/7 PПоддержка T8 для iPhone 8/8 PJC T7 T8 включает:1 x Тесты приспособление1 смарт-кабель C1